The Effect of Annealing on The Electrical Characterization of Cu n Type Inp Schottky Diodes C V Measurements as a Function of Sample Temperature

---

CİMİLLİ ÇATIR F. E., SAĞLAM M., TURUT A.

IPCAP 2016, 25 - 27 Şubat 2016

• Yayın Türü: Bildiri
• Erzincan Binali Yıldırım Üniversitesi Adresli: Evet