The Effects of Annealing on The Electrical Characterization of Cu/n-Inp/In Schottky Diodes I-V Measurements as a function of Sample Temperature

Creative Commons License

CİMİLLİ ÇATIR F. E., Sağlam ., Türüt .

IPCAP 2016, Erzurum, Türkiye, 25 - 27 Şubat 2016, ss.205, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Erzurum
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.205
  • Erzincan Binali Yıldırım Üniversitesi Adresli: Evet