The Effects of Annealing on The Electrical Characterization of Cu/n-Inp/In Schottky Diodes I-V Measurements as a function of Sample Temperature

---

Atıf İçin Kopyala

CİMİLLİ ÇATIR F. E., Sağlam ., Türüt .

IPCAP 2016, Erzurum, Türkiye, 25 - 27 Şubat 2016, ss.205

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Basıldığı Şehir: Erzurum
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Sayfa Sayıları: ss.205
• Erzincan Binali Yıldırım Üniversitesi Adresli: Evet