Physical Properties of NiO thin films prepared by SILAR method

AKALTUN Y., YILDIRIM M. A., Çayır T.

Indian Analytical Science Congress, Indian Goa, 2013, GOA, Hindistan, 15 Ağustos 2013, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: GOA
  • Basıldığı Ülke: Hindistan
  • Erzincan Binali Yıldırım Üniversitesi Adresli: Evet