The Effects of Sample Temperature and Termal Annealıng onCharacterıstıc Parameters of Au n Inp In Schottky Diodes Determıned from Capacitance Voltage Measurements

---

CİMİLLİ ÇATIR F. E., SAĞLAM M., TURUT A.

IPCAP 2016, 25 - 27 Şubat 2016

• Yayın Türü: Bildiri
• Erzincan Binali Yıldırım Üniversitesi Adresli: Evet