Characterization of SnS thin films grown by SILAR method


AKALTUN Y., ASTAM A., YILDIRIM M. A., CERHAN A.

International Semiconductor Science & Technology Conference, İstanbul, Türkiye, 13 - 15 Ocak 2014, ss.104

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: İstanbul
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.104
  • Erzincan Binali Yıldırım Üniversitesi Adresli: Evet