Characterization of SnS thin films grown by SILAR method

---

AKALTUN Y., ASTAM A., YILDIRIM M. A., CERHAN A.

International Semiconductor Science & Technology Conference, İstanbul, Türkiye, 13 - 15 Ocak 2014, ss.104, (Tam Metin Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Basıldığı Şehir: İstanbul
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Sayfa Sayıları: ss.104
• Erzincan Binali Yıldırım Üniversitesi Adresli: Evet