Growth and Characterization of Copper Tin Sulfide Semiconducting Thin Films by SILAR Method

ÇETİN C., ASTAM A.

International Physics Conference at the Anatolian Peak, Erzurum, Türkiye, 25 - 27 Şubat 2016, ss.188

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Erzurum
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.188
  • Erzincan Binali Yıldırım Üniversitesi Adresli: Evet