Growth and Characterization of Copper Tin Sulfide Semiconducting Thin Films by SILAR Method
International Physics Conference at the Anatolian Peak, Erzurum, Türkiye, 25 - 27 Şubat 2016, ss.188, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Basıldığı Şehir: Erzurum
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Sayfa Sayıları: ss.188
- Erzincan Binali Yıldırım Üniversitesi Adresli: Evet