The İnvestigation of Optical and Electrical Properties of ZnS Thin Films Which is Growth SILAR Technique As A Function of Temperature

YILDIRIM M. A., KUNDAKÇI M., ASTAM A., YILDIRIM M., ATEŞ .

6th International Conference of The Balkan Physical Union, İstanbul, Türkiye, 22 - 26 Ağustos 2006, ss.873, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: İstanbul
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.873
  • Erzincan Binali Yıldırım Üniversitesi Adresli: Evet