Semiconductor Wafer Pattern Recognition Using GhostNet: Balancing Accuracy and Parameter Efficiency

Creative Commons License

Taştimur Temiz C.

MEETCON- X 4. INTERNATIONAL CONGRESS ON SCIENTIFIC RESEARCH, Ankara, Türkiye, 1 - 04 Eylül 2026, ss.117-124, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Ankara
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.117-124
  • Erzincan Binali Yıldırım Üniversitesi Adresli: Evet