Effect of Annealing Temperature on Structural and Optical Properties of NiO Thin Films Deposited by Silar Method

ÇAYIR T., AKALTUN Y., ASTAM A.

Science & Applications of Thin Films Conference & Exhibition, İzmir, Türkiye, 19 - 23 Eylül 2016, ss.25, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: İzmir
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.25
  • Erzincan Binali Yıldırım Üniversitesi Adresli: Evet