Characterization of SnO2 Thin Films deposited with SILAR: Effect of Annealing on Physical Properties

Taşdemirci T.

BRAZILIAN JOURNAL OF PHYSICS, cilt.56, sa.4, ss.1-8, 2026 (SCI-Expanded, Scopus)

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 56 Sayı: 4
  • Basım Tarihi: 2026
  • Doi Numarası: 10.1007/s13538-026-02087-7
  • Dergi Adı: BRAZILIAN JOURNAL OF PHYSICS
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Scopus, Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), INSPEC
  • Sayfa Sayıları: ss.1-8
  • Erzincan Binali Yıldırım Üniversitesi Adresli: Evet