AYDIN, Y. Et Al. 2018. SIFT ve SURF Tabanlı Sayısal Görüntü Sahteciliği Tespiti Yöntemi. SIU 2018 IEEE 26. Sinyal Isleme ve Iletisim Uygulamaları Kurultayı , (İzmir, Turkey), 1-4.

AYDIN, Y., MUZAFFER, G., & ULUTAŞ, G., (2018). SIFT ve SURF Tabanlı Sayısal Görüntü Sahteciliği Tespiti Yöntemi . SIU 2018 IEEE 26. Sinyal Isleme ve Iletisim Uygulamaları Kurultayı (pp.1-4). İzmir, Turkey

AYDIN, YILDIZ, GÜL MUZAFFER, And GÜZİN ULUTAŞ. "SIFT ve SURF Tabanlı Sayısal Görüntü Sahteciliği Tespiti Yöntemi," SIU 2018 IEEE 26. Sinyal Isleme ve Iletisim Uygulamaları Kurultayı, İzmir, Turkey, 2018

AYDIN, YILDIZ Et Al. "SIFT ve SURF Tabanlı Sayısal Görüntü Sahteciliği Tespiti Yöntemi." SIU 2018 IEEE 26. Sinyal Isleme ve Iletisim Uygulamaları Kurultayı , İzmir, Turkey, pp.1-4, 2018

AYDIN, Y. MUZAFFER, G. And ULUTAŞ, G. (2018) . "SIFT ve SURF Tabanlı Sayısal Görüntü Sahteciliği Tespiti Yöntemi." SIU 2018 IEEE 26. Sinyal Isleme ve Iletisim Uygulamaları Kurultayı , İzmir, Turkey, pp.1-4.

@conferencepaper{conferencepaper, author={YILDIZ AYDIN Et Al. }, title={SIFT ve SURF Tabanlı Sayısal Görüntü Sahteciliği Tespiti Yöntemi}, congress name={SIU 2018 IEEE 26. Sinyal Isleme ve Iletisim Uygulamaları Kurultayı}, city={İzmir}, country={Turkey}, year={2018}, pages={1-4} }